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SiC MOSFET

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SiC MOSFET

1200V 160mΩ Gen2 Automotivo MOSFET de SiC

Introdução

Local de Origem: Zhejiang
Nome da Marca: Inventchip Technology
Número do modelo: IV2Q12160T4Z
Certificação: AEC-Q101


Quantidade Mínima de Pedido: 450 unidades
Preço:
Detalhes de Embalagem:
Prazo de Entrega:
Condições de Pagamento:
Capacidade de Fornecimento:


Recursos

  • 2ª Geração de Tecnologia SiC MOSFET com +18V de condução do gate

  • Alta tensão de bloqueio com baixa resistência de ligação

  • Comutação de alta velocidade com baixa capacitância

  • Capacidade elevada de temperatura de junção operacional

  • Diodo intrínseco muito rápido e robusto

  • Entrada de gate Kelvin facilitando o design do circuito do driver


Aplicações

  • Conversores DC/DC automotivos

  • Carregadores a bordo

  • Inversores solares

  • Controladores de motor

  • Inversores de compressores automotivos

  • Fontes de Alimentação em Modo de Comutação


Esquema:

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Diagrama de Marcação:

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Classificações Máximas Absolutas (Tc=25°C a menos que especificado o contrário)

Símbolo Parâmetro Valor Unidade Condições de Teste Nota
VDS Voltagem Drain-Source 1200 V VGS =0V, ID =100μA
VGSmax (CC) Tensão dc máxima -5 a 20 V Estático (CC)
VGSmax (Pico) Tensão de pico máxima -10 a 23 V Ciclo de trabalho<1%, e largura do pulso<200ns
VGSon Voltagem de ligação recomendada 18±0,5 V
VGSoff Voltagem de desligamento recomendada -3,5 a -2 V
Identificação Corrente de drenagem (contínua) 19 A VGS = 18V, TC = 25°C Fig. 23
14 A VGS = 18V, TC = 100°C
IDM Corrente de drenagem (em pulsos) 47 A Largura de pulso limitada pelo SOA Fig. 26
Ptot Dissipação total de potência 136 W TC = 25°C Fig. 24
Tstg Intervalo de temperatura de armazenamento -55 a 175 °C
Tj Temperatura de junção operacional -55 a 175 °C
TL Temperatura de solda 260 °C soldagem por onda permitida apenas nos terminais, 1,6 mm do caso por 10 s


Dados Térmicos

Símbolo Parâmetro Valor Unidade Nota
Rθ(J-C) Resistência Térmica da Junção ao Caso 1.1 °C/W Fig. 25


Características Elétricas (TC = 25°C a menos que especificado em contrário)

Símbolo Parâmetro Valor Unidade Condições de Teste Nota
Mín. Typ. - Max, não.
IDSS Corrente de drenagem com tensão zero no gate 5 100 μA VDS =1200V, VGS =0V
IGSS Corrente de fuga do gate ±100 nA VDS =0V, VGS = -5~20V
VTH Tensão limiar da porta 1.8 2.8 4.5 V VGS =VDS , ID =2mA Fig. 8, 9
2.1 VGS =VDS , ID =2mA @ TJ =175。C
Ron Resistência estática de drenagem-fonte ligada 160 208 VGS =18V, ID =5A @TJ =25。C Fig. 4, 5, 6, 7
285 VGS =18V, ID =5A @TJ =175。C
Ciss Capacitância de entrada 575 pF VDS=800V, VGS =0V, f=1MHz, VAC=25mV Fig. 16
Coss Capacitância de saída 34 pF
Crss Capacitância de transferência reversa 2.3 pF
Eoss Energia armazenada em Coss 14 μJ Fig. 17
Qg Carga total do gate 29 nC VDS = 800V, ID = 10A, VGS = -3 a 18V Fig. 18
Qgs Carga gate-source 6.6 nC
Qgd Carga de grade-dreno 14.4 nC
Rg Resistência de entrada de grade 10 ω f=1MHz
EON Energia de comutação de ligação 115 μJ VDS =800V, ID =10A, VGS =-3,5 a 18V, RG(ext) =3,3Ω, L=300μH TJ =25。C Fig. 19, 20
EOFF Energia de comutação na desligagem 22 μJ
td( lig ) Tempo de atraso na ligação 2.5 nS
tR Tempo de subida 9.5
td( desl ) Tempo de atraso na desligagem 7.3
tF Tempo de Queda 11.0
EON Energia de comutação de ligação 194 μJ VDS = 800V, ID = 10A, VGS = -3,5 a 18V, RG(ext) = 3,3Ω, L = 300μH TJ = 175°C Fig. 22
EOFF Energia de comutação na desligagem 19 μJ


Características do Diodo Reverso (TC = 25°C a menos que especificado em contrário)

Símbolo Parâmetro Valor Unidade Condições de Teste Nota
Mín. Typ. - Max, não.
VSD Tensão direta do diodo 4.0 V ISD =5A, VGS =0V Fig. 10, 11, 12
3.7 V ISD =5A, VGS =0V, TJ =175。C
trr Tempo de recuperação reversa 26 nS VGS =-3.5V/+18V, ISD =10A, VR =800V, RG(ext) =15Ω L=300μH di/dt=3000A/μs
Qrr Carga de recuperação reversa 92 nC
IRRM Corrente de recuperação reversa pico 10.6 A


Desempenho Típico (curvas)

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